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España

Método ISS (Irradiation Side Sampling)

Detector FPD con nueva tecnología patentada de Fujifilm, “Método ISS*”

El “Método ISS” ofrece imágenes muy nítidas, incluso con dosis bajas

 

El “Método ISS” ofrece imágenes muy nítidas, incluso con dosis bajas

La característica principal de la nueva tecnología patentada de Fujifilm, el “Método ISS”, es la posición de la matriz TFT en el frontal de la capa de centelleo, mientras que los paneles existentes la matriz TFT se encuentra en el lado posterior. Gracias a este nuevo método, la dispersión/reducción de las señales de rayos X se reduce considerablemente (y da como resultado un MTF mejorado). Además, la optimización de la capa de centelleo del panel se consigue con la propia tecnología de recubrimiento de precisión de Fujifilm, desarrollada gracias a su gran experiencia en la fabricación de Imaging Plate (IP), dando como resultado una DQE mejorada.

 

Nota

* Muestreo del lado de la irradiación