This website uses cookies. By using the site you are agreeing to our Privacy Policy.

Россия

Спецификации

Конструкция объектива

XF55-200mmF3.5-4.8 R LM OIS

Вертикальная ось: контрастность S : сагиттальная плоскость M : меридианная плоскость

Широкоугольная съемка

Пространственная частота 15 линий/мм

Расстояние от центра изображения

Пространственная частота 45 линий/мм

Расстояние от центра изображения

Телефото

Пространственная частота 15 линий/мм

Расстояние от центра изображения

Пространственная частота 45 линий/мм

Расстояние от центра изображения


Технические характеристики

ОбъективXF55-200mmF3.5-4.8 R LM OIS
Конструкция объектива14 элементов в 10 группах
(включая 1 асферический элемент и 2 элемента со сверхнизким коэффициентом дисперсии)
Фокусное расстояние (эквивалент формата 35мм)f=55-200 мм
(84-305 мм)
Угол поля зрения29° - 8,1°
Макс. диафрагмаF3,5 - F4,8
Мин. диафрагмаF22
Управление диафрагмойКоличество лепестков
     7 (круглое отверстие диафрагмы)

Размер ступени
     1/3EV (17 шагов)
Диапазон фокусировки

Нормальный
1,1м – ∞ (во всех положениях зума)

Макро
     1,1м - 3м (во всех положениях зума) 

Макс. увеличение0,18x (в положении теле)
Внешние размеры : Диаметр x Длина* (прибл.)
*расстояние от плоскости байонета
Ø75 мм x 118 мм (широкое) / 177 мм (теле)
Вес* (прибл.)
*без крышек и бленды
580 г
Размер фильтраØ62 мм